Yang-Tse Cheng and Mark W. Verbrugge Diffusion-Induced Stress, Interfacial Charge Transfer, and Criteria for Avoiding Crack Initiation of Electrode Particles J. Electrochem. Soc. 2010 157(4): A508-A516;
- DOI:
http://dx.doi.org/10.1149/1.3298892
J. Electrochem. Soc.
J. Electrochem. Soc.
Добрый день! Помогите, пожалуйста со статьей..
Yang-Tse Cheng and Mark W. Verbrugge Diffusion-Induced Stress, Interfacial Charge Transfer, and Criteria for Avoiding Crack Initiation of Electrode Particles J. Electrochem. Soc. 2010 157(4): A508-A516;
Yang-Tse Cheng and Mark W. Verbrugge Diffusion-Induced Stress, Interfacial Charge Transfer, and Criteria for Avoiding Crack Initiation of Electrode Particles J. Electrochem. Soc. 2010 157(4): A508-A516;
Кто сейчас на конференции
Сейчас этот форум просматривают: нет зарегистрированных пользователей и 17 гостей