+++АСТМ стандарты (до 2003 г.)

[usasterra]

Здравствуйте, уважаемые форумчане.

Может, у кого-нибудь есть возможность доступа к ASTM стандартам до 2003 года (список прилагается ниже). Стандарты были исключены из ведомства ASTM и переданы в ведомство SEMI в 2003 году. Поскольку последняя организация является негосударственным объединением, доступ из Беларуси (где я работаю) к обновленным
оригиналам невозможен, то же относится к уже исключенным из ASTM. Стандарты описывают продедуры и приемы выявления структурных дефектов в монокрист. Si методом химического травления.

1.ASTM F 1809-02 Guide for Selection and Use of Etching Solutions to Delineate Structural Defects in Silicon:

DOI:

http://dx.doi.org/10.1520/F1809-02

2. ASTM F 1810-97R02 Test Method for Counting Preferentially Etched or Decorated Surface Defects in Silicon Wafers

DOI:

http://dx.doi.org/10.1520/F1810-97R02

3. ASTM F1725-02 Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Ingots

DOI:

http://dx.doi.org/10.1520/F1725-02

4. ASTM F1726-02 Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Wafers

DOI:

http://dx.doi.org/10.1520/F1726-02

Заранее благодарна .

[sergio147]

держите пока №1

ASTM F1809-WITHDRAWN.1198751-1.pdf

[suprachemister]

2,3,4

[usasterra]

sergio147 и suprachemister, спасибо Вам огромное-преогромное.
Ура!!!!