+++SciNet(DDF)

[kms]

Эта статья плохо лежит, но может быть получится

(1). Pielaszek R., Gierlotka S., Stelmakh S., Grzanka E., Palosz B.F. - X-ray characterization of nanostrucrured materials. // Defects and Diffusion Forum. 2002. V. 208-209. P. 187 -

Оглавление

Код: Выделить всё

http://www.ttp.net/3-908450-71-3/2.html

выход на первую страницу статьи

Код: Выделить всё

http://www.scientific.net/3-908450-71-3/187/

выход на полный текст

Код: Выделить всё

http://www.scientific.net/requestpaper/15130

К сожалению, указанный на первой странице DOI не работает

[VOVAN CIR]

[kms]

Спасибо большое за статью!