Помогите, пожалуйста, с:
W. Anwand et al., 2010, Materials Science Forum, 666, 41 Structural Characterisation of Er Implanted, Ge-Rich SiO2 Layers Using Slow Positron Implantation Spectroscopy
- DOI:
http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.666.41
