1. Walther T., e.a. How to best measure atomic segregation to grain boundaries by analytical transmission electron microscopy. // J. Materials Science. 2014. V. 49. N. 11. P. 3898 - 3908.
Код: Выделить всё
http://dx.doi.org/10.1007/s10853-013-7932-2Код: Выделить всё
http://dx.doi.org/10.1007/s10853-013-7932-2Сейчас этот форум просматривают: Google [Bot] и 20 гостей