physica status solidi (b)
Volume 171, Issue 1, pages 63–76, 1 May 1992
Growth and Optical Characterization of CrSi2 Thin Films
H. Lange, M. Giehler, W. Henrion, F. Fenske, I. Sieber, G. Oertel
- DOI:
http://dx.doi.org/10.1002/pssb.2221710108
http://dx.doi.org/10.1002/pssb.2221710108Сейчас этот форум просматривают: нет зарегистрированных пользователей и 26 гостей