анализ кремния для электроники

физико-химические методы исследования, методики и другие вопросы аналитической химии
analytical chemistry, analysis and techniques for professionals
Ответить
Аватара пользователя
Hattabych
Сообщения: 75
Зарегистрирован: Пт авг 17, 2007 2:00 pm

анализ кремния для электроники

Сообщение Hattabych » Пт сен 14, 2007 10:11 am

Здравствуйте.
Как анализируют кремний на примеси для использования в микроэлектронике? Я так понимаю, что там нужны высокие точности определения для всех элементов таблицы Менделеева. Каким методом этого добиваются?
всем респект и уважуха

Аватара пользователя
amik
Сообщения: 23104
Зарегистрирован: Вс мар 05, 2006 9:32 pm

Сообщение amik » Пт сен 14, 2007 10:55 am

Там нужна не только и не столько точность определения, которая сильно страдает при малом содержании примесей, а скорее предел обнаружения. Если не ошибаюсь делают массспектрометрически с искровым или лазерным испарением образца. Вполне можно определять 10^(-6)% микропримесей, причем действительно всю таблицу Менделеева.
Бог на стороне не больших батальонов, а тех, кто лучше стреляет (приписывается Вольтеру)

Аватара пользователя
Hattabych
Сообщения: 75
Зарегистрирован: Пт авг 17, 2007 2:00 pm

Сообщение Hattabych » Пт сен 14, 2007 1:16 pm

спасибо за ответ.
Подскажите еще, если знаете, кремний с какой концентрацией примесей уже считается браком и не используется в микроэлектронике?
всем респект и уважуха

Аватара пользователя
nitro
Сообщения: 947
Зарегистрирован: Сб янв 15, 2005 1:16 pm
Контактная информация:

Сообщение nitro » Пн сен 17, 2007 10:59 am

Hattabych писал(а):...кремний с какой концентрацией примесей уже считается браком и не используется в микроэлектронике?
Это Вам в ГОСТы.

bf109xxl
Сообщения: 150
Зарегистрирован: Вт авг 16, 2005 10:27 pm

Re: анализ кремния для электроники

Сообщение bf109xxl » Пн сен 17, 2007 6:51 pm

Hattabych писал(а):Здравствуйте.
Как анализируют кремний на примеси для использования в микроэлектронике? Я так понимаю, что там нужны высокие точности определения для всех элементов таблицы Менделеева. Каким методом этого добиваются?
Атомная спектрометрия - абсорбционная, эмиссионная (в т.ч. с лазеро-абляционным возбуждением), масс. Рентгено-флуоресцентный анализ. Нейтронно-активационный анализ (гораздо реже).

Основным методом анализа микропримесей, пожалуй, в последнее время является масс-спектрометрия индуктивно связанной плазмы (в т.ч. с лазерно-абляционным вводом образца, но это скорее экзотика, чаще растворяют в смесях HF). Есть приборы, специально ориентированные для решения подобных задач. Оборудование дорогое, но обеспечивает прекрасные метрологические характеристики. В принципе, если не нужны уж сверх-ультра-микро пределы обнаружения, то неплохо работает и ИСП-атомно-эмиссионная спектрометрия. Да и старая добрая ААС с ЭТА тоже вполне еще ничего.

Забыл. Используют электрохимические методы, и фотоколориметрию, и люминесцентные методы, и газовую хроматографию. Но мейнстрим все же - атомная спектрометрия.

Аватара пользователя
amik
Сообщения: 23104
Зарегистрирован: Вс мар 05, 2006 9:32 pm

Сообщение amik » Пн сен 17, 2007 11:03 pm

bf109xxl, исчерпывающе :up:
Госты на полупроводниковый кремний , к сожалению, достаточно древние и методы анализа в них устаревшие, хотя диапазон примесей не должен бы измениться.

ГОСТ 26239.1-84 Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Метод определения примесей.

Изображение

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей.

Изображение

Не хватает еще фосфора, бора, кислорода, углерода и азота, анализируемых по отдельным методикам.
То Hattabych, возникает подозрение, что отбраковку ведут в первую очередь по физическим параметрам монокристалла :roll:
Бог на стороне не больших батальонов, а тех, кто лучше стреляет (приписывается Вольтеру)

Аватара пользователя
Hattabych
Сообщения: 75
Зарегистрирован: Пт авг 17, 2007 2:00 pm

Сообщение Hattabych » Вт сен 18, 2007 8:50 am

Огромное спасибо :clap:
всем респект и уважуха

dmitry_w
Сообщения: 1
Зарегистрирован: Вт май 13, 2008 9:16 pm

Re:

Сообщение dmitry_w » Вт май 13, 2008 9:30 pm

Ну что же вы человеку морочите голову.
Определить уровень примесей в приборном кремнии НЕВОЗМОЖНО (количественно уж точно). Настолько малы концентрации и не очень надежны методики. Для борьбы с этим злом существуют методики т.н. геттерирования, т.е. вытягивания их из зоны изготовления собственно приборов в процессе термообработок на маршруте изготовления микросхем.

marat
Сообщения: 728
Зарегистрирован: Вт июл 06, 2004 5:24 pm

Re: Re:

Сообщение marat » Ср май 14, 2008 6:34 am

dmitry_w писал(а):Ну что же вы человеку морочите голову.
Определить уровень примесей в приборном кремнии НЕВОЗМОЖНО (количественно уж точно). Настолько малы концентрации и не очень надежны методики. Для борьбы с этим злом существуют методики т.н. геттерирования, т.е. вытягивания их из зоны изготовления собственно приборов в процессе термообработок на маршруте изготовления микросхем.
Интересное заявление :mrgreen:
В Черноголовке и Подольске работают маги и делают невозможное :clap:

В дополнении к предложенным методам добавлю свои пять копеек
Для разбраковки кремниевых пластин по содержанию кислорода, углерода, азота и еще ряда элементов используют ИК-спектрометры. Например, Nicolet ECO - http://www.thermo.com/eThermo/CMA/PDFs/ ... _24829.pdf
Ну и есть соответствующая нормативная документация есть.
ASTM Designation F120 – Infrared Absorption Analysis of Impurities in Single Crystal Semiconductor Materials
ASTM Designation F121 – Interstitial Atomic Oxygen Content of Silicon by Infrared Absorption
ASTM Designation F123 – Substitutional Atomic Carbon Content of Silicon by Infrared Absorption
ASTM Designation F951 – Test Method for Determination of Radial Interstitial Oxygen
ASTM Designation F1188 – Test Method for Interstitial Atomic Oxygen Content of Silicon by Infrared Absorption
ASTM Designation F1189 – Test Method for Using Computer-Assisted Infrared Spectrophotometry to Measure the Interstitial Oxygen Content of Silicon Slices Polished on Both Sides
ASTM Designation F1391 – Test Method for Substitutional Atomic Carbon Content by Infrared Absorption

Аватара пользователя
natalya21
Сообщения: 47
Зарегистрирован: Вт янв 30, 2007 8:55 pm

Re: анализ кремния для электроники

Сообщение natalya21 » Чт май 15, 2008 5:22 pm

Помимо приборного обеспечения нужно еще и чистое помещение и о-очень чистые реактивы, не забывайте об этом. Анализ особочистых веществ - это не шутка.

SergeyR
Сообщения: 16
Зарегистрирован: Пн янв 23, 2006 11:10 am

Re: анализ кремния для электроники

Сообщение SergeyR » Пт май 16, 2008 9:27 am

Вопрос немного не в тему, но м.б. кто нибудь знает, можно ли где поближе - у нас в России провести масс-спектроскопический анализ образца кремния (нужно установить изотопный состав). Сколько это может стоить?
ТСР

marat
Сообщения: 728
Зарегистрирован: Вт июл 06, 2004 5:24 pm

Re: анализ кремния для электроники

Сообщение marat » Пт май 16, 2008 12:28 pm

SergeyR писал(а):Вопрос немного не в тему, но м.б. кто нибудь знает, можно ли где поближе - у нас в России провести масс-спектроскопический анализ образца кремния (нужно установить изотопный состав). Сколько это может стоить?
Мало того, что в России, можно указать даже и конкретный в город 8)

SergeyR
Сообщения: 16
Зарегистрирован: Пн янв 23, 2006 11:10 am

Re: анализ кремния для электроники

Сообщение SergeyR » Пн май 19, 2008 5:26 am

Наверное, лучше других подойдет Москва и Подмосковье, или Новосибирск.
ТСР

ITG
Сообщения: 508
Зарегистрирован: Вс май 11, 2003 12:16 pm
Контактная информация:

Re: анализ кремния для электроники

Сообщение ITG » Пн май 19, 2008 10:46 am

Хм... Нейтронно-активационный знаю только из книжек - никогда вживую не видел :)

bf109xxl
Сообщения: 150
Зарегистрирован: Вт авг 16, 2005 10:27 pm

Re: анализ кремния для электроники

Сообщение bf109xxl » Пн май 19, 2008 12:09 pm

ITG писал(а):Нейтронно-активационный знаю только из книжек - никогда вживую не видел
Ну, я видел. В нашем отделе делают с давних пор. Весьма мощный метод.

bf109xxl
Сообщения: 150
Зарегистрирован: Вт авг 16, 2005 10:27 pm

Re: анализ кремния для электроники

Сообщение bf109xxl » Пн май 19, 2008 12:10 pm

SergeyR писал(а):провести масс-спектроскопический анализ образца кремния (нужно установить изотопный состав).
Изотопный состав чего - кремния? Или примесей?

bf109xxl
Сообщения: 150
Зарегистрирован: Вт авг 16, 2005 10:27 pm

Re: Re:

Сообщение bf109xxl » Пн май 19, 2008 12:13 pm

dmitry_w писал(а):Ну что же вы человеку морочите голову.
Определить уровень примесей в приборном кремнии НЕВОЗМОЖНО (количественно уж точно). Настолько малы концентрации и не очень надежны методики.
У Вас крайне устаревшие сведения. Методики, которые позволяют количественно определять примеси в приборном кремнии, см.выше.

marat
Сообщения: 728
Зарегистрирован: Вт июл 06, 2004 5:24 pm

Re: анализ кремния для электроники

Сообщение marat » Пн май 19, 2008 6:58 pm

Институт катализа им. Г.К. Борескова
Институт физики полупроводников
Институт неорганической химии
Институт Ядерной Физики им.Г.И.Будкера
Новосибирский завод химконцентратов
Сибирский химический комбинат, Северск
Горно-химический комбинат,Железногорск
Электрохимический завод, Зеленогорск
Я бы начал с этих контор. Может кто и возьмется.

Ответить

Вернуться в «аналитическая химия / analytical chemistry»

Кто сейчас на конференции

Сейчас этот форум просматривают: нет зарегистрированных пользователей и 11 гостей